Каталог документов NormaCS

Поиск по каталогу:   
Реквизитный и полнотекстовый поиск документов доступен в lite-версии сетевого клиента NormaCS

ГОСТ 28623-90 Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы

ГОСТ 28623-90 входит в следующие классификаторы и разделы
ПромЭкспертРАЗДЕЛ I. ТЕХНИЧЕСКОЕ РЕГУЛИРОВАНИЕ → V Испытания и контроль → 4 Испытания и контроль продукции → 4.15 Испытания и контроль продукции электронной, оптической и электротехнической промышленности → 4.15.2 Оборудование и аппаратура для радио, телевидения и связи
Классификатор ISO31  ЭЛЕКТРОНИКА → 31.080 Полупроводниковые приборы
Классификатор ISO31  ЭЛЕКТРОНИКА → 31.080  Полупроводниковые приборы → 31.080.01 Полупроводниковые приборы в целом
Классификатор ISO31  ЭЛЕКТРОНИКА → 31.200 Интегральные схемы. Микроэлектроника
Национальные стандарты31  ЭЛЕКТРОНИКА → 31.080 Полупроводниковые приборы
Национальные стандарты31  ЭЛЕКТРОНИКА → 31.200 Интегральные схемы. Микроэлектроника
Национальные стандарты по КГСПоследняя редакция → Э Электронная техника, радиоэлектроника и связь → Э2 Элементы радиоэлектронной аппаратуры → Э20 Классификация, номенклатура и общие нормы

 ГОСТ 28623-90 Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы

Статус: Информация о статусе доступна в коммерческой версии NormaCS
Синонимы: МЭК 747-10-84
Текст документа: присутствует в коммерческой версии NormaCS
Сканкопия официального издания документа: присутствует в коммерческой версии NormaCS
Страниц в документе: 23
Утвержден: Госстандарт СССР; Комитет стандартов, мер и измерительных приборов при Совмине СССР, 23.07.1990
Обозначение: ГОСТ 28623-90
Наименование: Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы
Дополнительные сведения: доступны через сетевой клиент NormaCS. После установки нажмите на иконку рядом с названием документа для его открытия в NormaCS

ГОСТ 28623-90 Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы

Заказать систему NormaCS с полными текстами/изображениями документов
Полнотекстовый поиск по всем документам доступен в демо-версии сетевого клиента

Документ ссылается на:

Показать легенду

     ГОСТ 17467-88 - Микросхемы интегральные. Основные размеры
     ГОСТ 28198-89 - Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 1. Общие положения и руководство
     ГОСТ 28199-89 - Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытания. Испытание А: Холод
     ГОСТ 28235-89 - Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытания. Испытание Та: Пайка. Испытание на паяемость методом баланса смачивания
     ГОСТ 28236-89 - Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 3. Дополнительная информация. Раздел 1. Испытания на холод и сухое тепло
     ГОСТ 28578-90 - Приборы полупроводниковые. Механические и климатические испытания

На документ ссылаются:

Показать легенду

     Приказ 217 - О закреплении документов национальной системы стандартизации за техническим комитетом по стандартизации "Изделия электронной техники, материалы и оборудование" (ТК 303)